SEM在以下哪个真空度，SEM真空度

　　　　SEM在以下哪个真空度，SEM真空度

　　　　在满足检测目的的前提下，样品尺寸尽量小(尤其是高度)，样品高度尽量一致，样品固定牢固； )放样前检查背散射电子探针和EBSD探针是否退出； 你一定记得用完这两个探测器后，马上退出。 自古以来，研究金属和合金的性质和性能与组织之间的内在联系，保证了金属和合金材料的质量，并找到了制备新合金的方法，但自从显微镜问世以来，人们具备了深入研究金属材料的条件。

　　　　TEM样品多放置在直径3mm的200目样品网上，在样品网上多预先制作约20nm厚的支撑膜。 在最佳实验条件下，能谱的最低检出限在0.01-0.1%左右，距离ppm还有一段距离。 设备销售聚焦离子束显微镜( FIB )透射电子显微镜( TEM )扫描电子显微镜( SEM )双束显微镜( DB )耗材及配件维护。

　　　　解决污染的方法有：改善电镜真空，减少真空中油、脂蒸汽和水蒸气； 迅速观察，在污染不严重前完成观察和记录； 污染区域图像质量明显下降时，更换观察区域或更换样品。 晶体取向：在晶体中，通过两个或多个原子中心的直线构成一个原子排，各种原子排的位置方向称为晶体取向。 由于原子力显微镜可以观察导体和非导体两者，因此可以弥补STM的不足。

　　　　STEM成像：照明会聚束、成像不相干、结果的累积性、完全不相干接收的情况下，图像的对比度不会因样本的厚度和焦点不足而反转，可以对更厚的样本进行成像。 二次电子对样品表面状态非常敏感，能有效地显示样品表面的微观形貌； 背散射电子可呈现形态对比、成分对比和晶体取向对比，主要表现为成分对比； 其中二次电子分辨率高，扫描电镜分辨率为二次电子分辨率。

　　　　晶面由于满足布拉格衍射条件，在发生弹性相干散射，即菊池衍射的部分，菊池衍射产生的背散射电子从试料表面逃逸，射出到放置在CCD相机前端的荧光屏，形成背散射电子衍射图案( EBSP )。 热分析的定义：热分析是指在程序控制温度的同时，测量物质物理性质与温度关系的技术。 窗口用于将探针维持在高真空中，不能太厚或太薄。 如果太厚的话，

　　　　如果调制周期是基本结构光栅平移矢量的整数倍，则称为有公度调制； 如果调制周期与基本结构的晶格平移矢量之比是无理数，则称为无公度调制。 MFM磁显微镜：分辨率优于25nm，主要用于观察磁场边界、磁场强度等，如磁盘上存储的数据等，由BEEM弹道电子发射显微镜： STM衍生，用于研究界面性质，具有纳米空间分辨率

　　　　如图所示，光束x射线被晶面p反射时，如果假设n为晶面p法线方向，用单位矢量S 0表示入射线方向，用单位矢量s表示衍射线方向，则S-S 0为衍射矢量。