EDS必须和SEM一起吗，eds剪辑是什么意思

　　　　EDS必须和SEM一起吗，eds剪辑是什么意思

　　　　从寻找食物污染物到识别机械故障，再到预测飞机零部件的腐蚀方式，能谱分析( EDX或EDS )是目前材料科学家广泛采用的技术。 当扫描电子显微镜与EDS检测器组合使用时，x射线也可以用作生成化学信息的信号。 使用EDS可以快速获得关于样品化学成分的信息，包括元素构成、分布和浓度。 在扫描电镜下，用于成像的两种电子是背散射电子( BSE )和二次电子( SE )。

　　　　首先，分析速度快；二，对于不能按专业校准程序(如XPP等)研磨的样品，SEM-EDS也能实现准确的定量分析，已成为形态分析领域不可缺少的技术手段，包括材料、化学、生物医学、地质等

　　　　微源检测实验室提供SEM-EDS形态分析，按照ISO17025和GMP进行实验室管理，申请并通过中国计量认证( CMA )资格认证，以及产品生产过程中可能产生的杂质的评估报告、方法开发、验证及样品检测等一系列完整的解决方法由于特征x射线主要从微米级深度发射，因此将SEM-EDS技术用于成分分析时为体分析，SEM所用的加速电压一般在20kV左右。

　　　　本论文尝试在较低的加速电压下分析材料，得到表面的特征x射线并进行分析，探索SEM-EDS在表面成分分析中的应用。 有趣的是，EDS还可用于定性和定量分析，即识别样品的元素类型和各元素的浓度%。 扫描电镜( SEM )和x射线能谱仪( EDS )是现代材料分析领域比较常见的两种分析设备，基本配套使用，功能强大，可以观察样品表面形貌，进行微区成分分析。

　　　　在多层膜的分析中，采用不同的SEM加速电压将电子束照射到不同的深度，可以得到各元素浓度随加速电压的变化曲线，从而判断哪些元素属于哪一层。 与传统扫描电镜一样，EDS技术几乎不需要样品制备，无损伤，无损伤样品。 主要研究手段有利用SEM-EDS进行成分分析、成分信息的合理处理等。

　　　　研究的主要内容是利用SEM-EDS技术分析纳米薄膜材料的组成，计算能够表达表面灵敏度的电子的非弹性散射平均自由程( IMFP )，尝试分析多层膜。 扫描电镜( SEM )已经成为一种功能强大、用途广泛的材料表征工具，尤其是近年来用于各种应用的材料尺寸也在不断缩小。 EDS分析以其诸多优势，广泛应用于制造业、研究领域、能源资源管理、快消品等诸多行业。

　　　　EDS已经成为扫描电镜的重要部分，利用扫描电镜进行EDS分析，可以使研究者在提高分析结果质量的同时，节约宝贵的时间。