sem中eds是测什么的，eds是什么分析测试方法

　　　　sem中eds是测什么的，eds是什么分析测试方法

　　　　无论是扫描型电子显微镜还是透射型电子显微镜，目前购买时的能谱都基本标准化。 由于价格只有电镜的五分之一到六分之一，分析速度快，可以在线分析微区内样品成分，给出半定量或定量结果。 透射电镜如果有扫描附件，可以像扫描电镜一样产生漂亮的元素分布图，这对实验结果是有益的直观支撑。 点扫描可以给出扫描元素的相对含量，测试准确性高，常用于显微结构成分分析。

　　　　由于金纳米粒子的质量比核酸碱基大，因此得到的振荡频率的变化也大，QCM检测的灵敏度提高。 EDS的分析结果中包含原子比( atomic% )和元素比(即质量比( weight% ) )的数据。 请注意，由于EDS分析不是很准确，所以尽管分析报告的结果是两位小数，但只需要取一位小数就足够了。 疲劳试验常用于表示金属零件和构件因变动应力和应变的长期作用引起的累计损伤引起的断裂性能。

　　　　EDS的光谱峰中有很多与一种元素对应的峰，这不就说明这种元素的含量很高吗？ 目前最常用的是si(Li ) X射线光谱仪，其关键部件是si(Li )探测器，即锂漂移硅固态探测器，实际上是以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。 是颜色的表象。 通俗地说，就是红、黄、蓝、绿等，一眼看是什么颜色。 DTA曲线：以温度为横轴，样品与参照物的温差t为纵轴，表示样品在不同吸热峰和放热峰受热时不同的热迁移状态。

　　　　通气法粉末样品的气体透过能力与粉末的比表面有关，由此求出样品的比表面积，由此得到粒子的平均粒度。 定量分析：根据物质光谱吸光度的特点，对物质的量具有较好的分析能力。 A ) C和O一般存在于空气中油脂等有机物，容易吸附污染样品表面，无论是TEM、SEM都有可能出现C和o峰。

　　　　SEM的样品制作比较简单，且与厚度无关，一般电子束深度仅为几微米，定量时该样品的标准样品(如纯Si可采用纯Si标准样品，MgO可采用MgO标准样品)，在许多国家。 这样，EDS应该是文章中的正规用法，但现在很多文章还是用了其他的说法，很有约定的味道。 我要是知道是怎么回事就好了。

　　　　对于不均匀试样，用三点分析结果的平均值表示，或总量误差5%以下时，经确认无漏测元素时，允许使用归一化值作为定量分析结果。 我们平时说的极少或微不足道的东西，在微观世界里，这种微小不能说是微小的。 头发的每一根截面也放大了，可以清楚地看到。 应用于微技术的常用单位是纳米( nm )。