sem和xrd各表征什么，SEM XRD

　　　　sem和xrd各表征什么，SEM XRD

　　　　原理：利用氩等离子体产生的高温使样品完全分解形成激发态的原子和离子，由于激发态的原子和离子不稳定，外层电子从激发态跃迁到低能级，发射出特征谱线。 AFM的优点是在大气条件下高倍率观察样品表面，可用于大多数样品，对表面粗糙度有一定要求。 无需进行其他制样处理，即可获得样品表面的三维形貌图像。

　　　　SEM也是表征纳米材料形貌、粒径和尺寸的常用仪器，用于一般纳米材料的文献。 光程差BD BF=2dhklsin =n； 衍射仅在d、、满足布拉格方程时发生。 扫描电镜采用这种逐点成像的方法，将样品表面的不同特征依次按比例转化为视频信号，完成一帧图像，使荧光屏观察样品表面的各种特征图像。

　　　　以二水乙酸锌和氢氧化钠为原料，采用过氧化氢辅助水热法制备了性状良好的氧化锌纳米棒，并通过XRD、SEM、FTIR等手段进行了表征。 TEM是表征纳米材料形貌、粒径和尺寸的常用仪器，用于一般纳米材料的文献。 它通过检测被测样品表面与微力敏感元件之间极其微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构和性质。

　　　　张建齐； 胡珊珊； J.Rieger； S.Roth； R.Gehrke； 门永锋； 同步辐射小角x射线散射研究单向拉伸作用下轴对称晶体结构乳胶膜的变形过程[A]； 2009年全国高分子学术论文报告会论文摘要集(上册) c； 2009年。 提供的信息：光谱指纹性或特征碎片峰表示聚合物的化学结构和几何构型。

　　　　实验室拥有众多大型仪器和各类分析检测设备，研究所长期与各大企业、高效科研院所保持合作关系，始终以科研为初代，以客户为中心，致力于提高自身综合检测能力和水平，成为全国科学材料研发领域的服务平台光致发光按延迟时间可分为荧光( Fluorescence和磷光。

　　　　高分辨率tem用于观察纳米材料的晶面参数，估算纳米材料的晶型； EDX一般用于分析样品中的元素及元素所占比例； SAED用于实现晶体样品的形貌特征和晶体学性质的原位分析。 使用已知波长的x射线测定角，计算晶面间隔d。 它用于x射线结构分析； 另一种是通过使用已知D的晶体测量角，计算出特征x射线的波长，并根据现有资料检测样品中所含元素。

　　　　A以二水乙酸锌和氢氧化钠为原料，采用过氧化氢辅助水热法制备了性状良好的氧化锌纳米棒，并通过XRD、SEM、FTIR等手段进行了表征。