sem多长时间测一个样，sem是什么测试方法

　　　　sem多长时间测一个样，sem是什么测试方法

　　　　当然，没有必要等电子结束旅行。 整个过程几乎瞬间发生。 时间的长度为纳秒( 10-9秒)量级。 阴极灯丝通过灯丝的加热电流发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速移动，经过*聚光镜和第二聚光镜的聚焦作用使电子束聚焦在试样上，透过试样的电子束被物镜、中间镜、第二中间镜和投影镜四个阶段放大

　　　　背散射电子对比度主要反映样品表面原子序数的差异，样品平坦时SE像没有对比度差异，但存在不均相时BSE像有清晰的相区。 通常，用扫描电镜进行样品观察，二次电子的使用多于背散射电子。 能谱分析的准确性与样品的制备过程、样品的导电性、元素含量及元素的原子序数有关。

　　　　SEM成像时电子束扫描样品表面而不穿透样品，而TEM成像时电子束穿透样品，SEM的空间分辨率一般为XY-3-6nm，TEM的空间分辨率一般可达0.1-0.5nm。 这些意味着点扫描可以测试材料所在位置的元素种类和含量，面扫描的含义主要是了解材料元素的区域分布，线扫描的含义是了解材料一条线上各点元素含量的变化。

　　　　SEM检查时，扫描电镜样品的制作需谨慎。 a .样品应为干燥无水固体，无易挥发溶剂，b观察面清洁，无污染物； C的导电性和导热性好，导电性不好(如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等)或铁磁样品建议喷金，否则可能影响拍摄效果。 前者光栅尺的长度不变，但代表性的长度根据放大倍率而变化，后者光栅尺的长度根据阶段放大倍率可变，但代表性的长度在一定的放大倍率范围内是一定的。

　　　　综合科研服务平台：以分析测试为核心，提供材料测试、生物实验、环境检测、模拟计算、科研绘图、论文服务、直播授课等服务。 根据碎片波动理论，电子的波长只与加速电压有关。 e=h/mv=。 然后，闪烁体将电子加速转化为光后，到达光电倍增管进行放大，二次电子探测器以一定角度放置在样品室的一侧，有助于提高二次电子的检测效率。

　　　　许多非导体需要制作导电膜(如喷金)，大多数几分钟就可以了，含水的生物样品需要固定脱水干燥。 当样品不导电或导电不良时，样品表面多余的电子和游离粒子的积累不能及时传递，在一定程度上又会反复出现充放电现象( charging，最终影响电子信号的传递，造成图像畸变、变形、晃动

　　　　扫描电镜( SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的微观形貌观察手段，可以直接利用样品表面材料的物理性能进行微观成像。